教員情報 - 佐藤　宣夫 | 千葉工業大学

1.	～1998/03	名古屋工業大学 II部電気情報工学科卒業
2.	1998/04～2000/03	名古屋工業大学大学院電気情報工学専攻修士課程修了
3.	2000/04～2003/03	京都大学大学院電子物性工学専攻博士課程
4.	2004/01	京都大学大学院電子物性工学専攻博士課程博士(工学)

■ 研究概要

真夏の太陽光は、1平方メートルあたり約1000 Jに相当するエネルギーを有しています．このエネルギーを使い勝手の良い電気エネルギーに変換するための研究を行なっています．具体的には，太陽光発電システムの要素技術であります，太陽電池の高効率化とその特性評価，蓄電池とその充電回路，直流から交流への変換回路の製作，状態を正しく計測するための技術，それらの技術確立をめざして取り組んでいます．

■ 専門分野

計測工学, 電力工学, 電気電子材料工学, 無機材料、物性, 薄膜、表面界面物性　（キーワード：半導体電力変換、光・電子物性、ナノブローブ工学）

■ メールアドレス

■ 所属学会

1.	1993/04～	応用物理学会
2.	2009/03～	電気学会
3.	2011/11～	電子情報通信学会
4.	2012/04～	IEEE
5.	2014/01～	日本表面科学会

■ 著書・論文・作品

1.	著書	電気回路素子を理解するための電気磁気学（単著） 2025/11/06
2.	論文	Development of an Isolated Class-Φ²₂ DC-DC Converter with Bidirectional Operation IEEJ Journal of Industry Applications 14(4),pp.529-534 （共著） 2025/07/01
3.	論文	Harmonic balance analysis of tip-sample interaction and coexisting solutions in dynamic atomic force microscopy Nonlinear Theory and Its Applications, IEICE 16(3),pp.737-750 （共著） 2025/07/01
4.	論文	水溶液中でのプラズマ生成によるオゾンを使ったヨウ素の酸化現象電気学会論文誌Ａ（基礎・材料・共通部門誌） 144(10),392-398頁（共著） 2024/10/01
5.	論文	A Nondestructive Method to Evaluate of DC-DC Converters Using Subsurface Magnetic Field Imaging with Pulse Width Modulation IEEJ Journal of Industry Applications 13(3),pp.301-307 （共著） 2024/05/01
6.	論文	交番磁気力顕微鏡を用いた直流電流路周囲の磁場勾配観測電気学会論文誌Ｅ（センサ・マイクロマシン部門誌） 144(4),62-67頁（共著） 2024/04/01
7.	論文	絶縁型Φ_2n級DC-DCコンバータの開発とその評価電気学会論文誌Ｄ（産業応用部門誌） 144(3),149-155頁（共著） 2024/03/01
8.	論文	電力パケットを適用した金属製ボディ通電による配電技術の検討電気学会論文誌Ｄ（産業応用部門誌） 144(1),16-22頁（共著） 2024/01/01
9.	論文	ダウンコンバージョン法を用いた高周波磁界による電流経路の可視化電気学会論文誌D(産業関連論文誌) 143(3),236-241頁（共著） 2023/03/01
10.	論文	窒化ガリウム高電子移動度トランジスタの内部構造評価電気学会論文誌Ｅ（センサ・マイクロマシン部門誌） 142(12),316-324頁（共著） 2022/12/01
11.	論文	高調波解析技術に基づく絶縁型Φ₂級DC-DCコンバータの設計電気学会論文誌Ｄ（産業応用部門誌） 142(3),177-186頁（共著） 2022/04/01
12.	論文	Photo radiation pressure at resonance of frequency modulated micro cantilever Nonlinear Theory and Its Applications, IEICE 12(4),pp.718-725 （共著） 2021/10/01
13.	論文	パワーコンバータ用電流経路可視化技術電気学会誌 141(10),639-641頁（単著） 2021/10/01
14.	論文	走査型プローブ顕微鏡を用いた電圧印加中のSiCプレーナ型パワーMOSFETの観測電気学会論文誌Ｅ（センサ・マイクロマシン部門誌） 141(10),349-355頁（共著） 2021/10/01
15.	論文	Evaluation of silicon carbide Schottky barrier diode within guard ring by multifunctional scanning probe microscopy Japanese Journal of Applied Physics 59,pp.SN1014 （共著） 2020/06/15
16.	論文	Development of scanning capacitance force microscopy using the dissipative force modulation method 31,pp.035904 （共著） 2019/12/27
17.	論文	Development of atomic force microscopy combined with scanning electron microscopy for investigating electronic devices AIP Advances 9(11),pp.115011-1-115011-8 （共著） 2019/11/14
18.	論文	走査型レーザ磁気顕微鏡法による多結晶太陽電池の特性評価電気学会論文誌Ｅ（センサ・マイクロマシン部門誌） 139(9),335-340頁（共著） 2019/09/01
19.	論文	Cross-sectional observation in nanoscale for Si power MOSFET by atomic force microscopy/Kelvin probe force microscopy/scanning capacitance force microscopy Japanese Journal of Applied Physics 58 （共著） 2019/06/13
20.	論文	Nanoscale investigation of bulk heterojunction organic solar cell by scanning capacitance force microscopy Japanese Journal of Applied Physics 57 （共著） 2018/07/11
21.	論文	Driven by complementary operation of SiC-MOSFET and SiC-JFET within isolated flyback converter circuit Nonlinear Theory and Its Applications, IEICE 9(3),pp.337-343 （共著） 2018/07/01
22.	論文	Imaging of an n- layer in a silicon fast recovery diode under applied bias voltages using Kelvin probe force microscopy Japanese Journal of Applied Physics Volume 57(Number 8S1) （共著） 2018/07
23.	論文	Investigation of an n-layer in a silicon fast recovery diode under applied bias voltages using Kelvin probe force microscopy Japanese Journal of Applied Physics, Volume 57(Number 8S1) （共著） 2018/07
24.	論文	Nanoscale investigation of bulk heterojunction organic solar cell by scanning capacitance force microscopy Japanese Journal of Applied Physics Volume 57(Number 8S1) （共著） 2018/07
25.	論文	Nanoscale investigation of the silicon carbide double-diffused MOSFET with scanning capacitance force microscopy Japanese Journal of Applied Physics Volume 57(Number 8S1) （共著） 2018/07
26.	論文	パワーデバイス用半導体結晶 —Si, SiC, GaN, ダイヤモンド, Ga2O3— 電気学会論文誌 137 巻 (2017)(10号),673-674頁（共著） 2017/10
27.	論文	Evaluation of carrier concentration reduction in GaN-on-GaN wafers by Raman spectroscopy and Kelvin force microscopy Japanese Journal of Applied Physics Volume 56(Number 8S1) （共著） 2017/07
28.	論文	Nanoscale observation of organic thin film by atomic force microscopy Japanese Journal of Applied Physics Volume 56(Number 8S1) （共著） 2017/07
29.	論文	Near-field light detection of a photo induced force by atomic force microscopy with frequency modulation Japanese Journal of Applied Physics Volume 56(Number 8S1) （共著） 2017/07
30.	論文	Observation of silicon carbide Schottky barrier diode under applied reverse bias using atomic force microscopy/Kelvin probe force microscopy/scanning capacitance force microscopy Japanese Journal of Applied Physics Volume 56(Number 8S1) （共著） 2017/07
31.	論文	Surface potential measurement of n-type organic semiconductor thin films by mist deposition via Kelvin probe microscopy Japanese Journal of Applied Physics Volume 56(Number 8S1) （共著） 2017/07
32.	論文	Using dynamic force microscopy with piezoelectric cantilever for indentation and high-speed observation IEICE NONLINEAR THEORY AND ITS APPLICATIONS 8(2),pp.98-106 （共著） 2017/04/26
33.	論文	Non-resonant frequency components observed in a dynamic Atomic Force Microscope IEICE Nonlinear Theory and Its Applications 8(2),pp.118-128 （共著） 2017/04
34.	論文	Flyback Converter Using SiC Power-MOSFET to Achieve High Frequency Operation Over 10MHz IEICE Proceeding Series (48),A3L-F-4頁（共著） 2016/11/27
35.	論文	Investigation of the depletion layer by scanning capacitance force microscopy with Kelvin probe force microscopy Japanese Journal of Applied Physics 55(8),pp.08NB10 （共著） 2016/07
36.	論文	Optical and mechanical detection of near-field light by atomic force microscopy using a piezoelectric cantilever Japanese Journal of Applied Physics Volume 55(Number 8S1) （共著） 2016/07
37.	論文	走査型プローブ顕微鏡によるサファイア基板上窒化ガリウム層の表面形状及び表面電位観測電気学会論文誌. E, センサ・マイクロマシン部門誌 136(4),96-101頁（共著） 2016/04/01
38.	論文	Development of Multi-Probe Atomic Force Microscope and Probe Interaction IEICE Proceeding Series (47),pp.752-755 （単著） 2015/12/03
39.	論文	Surface potential measurement of fullerene derivative/copper phthalocyanine on indium tin oxide electrode by Kelvin probe force microscopy Japanese Journal of Applied Physics 54(8S1),pp.08KF06 （共著） 2015/08
40.	論文	直下入射方式の光てこ変位検出によるツインプローブ原子間力顕微鏡電気学会論文誌. E, セTwin-probe Atomic Force Microscopy with Optical Beam Deflection using Vertically Incident Lasers by Two Beam Splitterンサ・マイクロマシン部門誌 135(4),135-141頁（共著） 2015/04/01
41.	論文	Surface Potential Investigation of Fullerene Derivative Film on Platinum Electrode under UV Irradiation by Kelvin Probe Force Microscopy Using a Piezoelectric Cantilever e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 13,pp.102-106 （共著） 2015/03/21
42.	論文	Surface Potential Measurement of Organic Multi-layered Films on Electrodes by Kelvin Probe Force Microscopy IEICE Transactions on Electronics E98C(2),pp.91-97 （共著） 2015/02/01
43.	論文	Scanning near-field optical microscopy system based on frequency-modulation atomic force microscopy using a piezoelectric cantilever Japanese Journal of Applied Physics 53(12),pp.125201-1-125201-5 （共著） 2014/11/06
44.	論文	Surface potential measurement of fullerene/copper phthalocyanine films on indium tin oxide electrode by Kelvin probe force microscopy Japanese Journal of Applied Physics 53(5),pp.05FY03-1-05FY03-4 （共著） 2014/04/07
45.	論文	Multi-Probe Atomic Force Microscopy Using Piezo-Resistive Cantilevers Interaction between Probes e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 11,pp.13-17 （共著） 2013/01/01
46.	論文	Energy Band Diagram near the Interface of Aluminum Oxide on p-Si Fabricated by Atomic Layer Deposition without/with Rapid Thermal Cycle Annealing Determined by Capacitance-Voltage Measurements e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 10,pp.22-28 （共著） 2012/03/03
47.	論文	Surface Potential Measurement of Tris(8-hydroxyquinolinato)aluminum and Bis[N-(1-naphthyl)-N-phenyl]benzidine Thin Films Fabricated on Indium-Tin Oxide by Kelvin Probe Force Microscopy Japanese Journal of Applied Physics 50(7),pp.071601-1-071601-4 （共著） 2011/07/20
48.	論文	Surface Potential Measurement of Organic Thin Film on Metal Electrodes by Dynamic Force Microscopy Using a Piezoelectric Cantilever Journal of Applied Physics 109(11),pp.114306-1-114306-5 （共著） 2011/06/06
49.	論文	Nanoscale liquid droplet deposition using the ultrasmall aperture on a dynamic mode AFM tip Nanotechnology 22(17),pp.175301-1-175301-5 （共著） 2011/03/16
50.	論文	Near-field light detection by conservative and dissipative force modulation methods using a piezoelectric cantilever Applied Physics Letters 96(23),pp.233104-1-233104-3 （共著） 2010/06/07
51.	論文	Local Potential Imaging of a Multilayer Ceramic Capacitor Using Kelvin Probe Force Microscopy Microscopy and Microanalysis 14(S2),pp.960-961 （共著） 2008/08
52.	論文	Development of multi-probe AFM with optical beam deflection method Japanese Journal of Applied Physics 46(8B),pp.5636-5638 （共著） 2007/08/23
53.	論文	Multi-probe atomic force microscopy using piezoelectric cantilevers Japanese Journal of Applied Physics 46(8B),pp.5543-5547 （共著） 2007/08/23
54.	論文	SEM／EDSによる竹炭のケイ素の分布について Bamboo Journal 22,71-80頁（共著） 2005/03/31
55.	論文	Investigations of Nanoparticles by Scanning Near-Field Optical Microscopy Combined with Kelvin Probe Force Microscopy Using a Piezoelectric Cantilever Japanese Journal of Applied Physics 43(7B),pp.4651-4654 （共著） 2004/07/01
56.	論文	Nanoscale Investigations of Optical and Electrical Properties by Dynamic mode AFM Using a Piezoelectric cantilever Japanese Journal of Applied Physics 42(7B),pp.4878-4881 （共著） 2003/07/01
57.	論文	Investigations of local surface properties by SNOM combined with KFM using a PZT cantilever IEICE TRANSACTIONS on Electronics E85-C(12),pp.2071-2076 （共著） 2002/12/01
58.	論文	Dynamic-mode AFM using the piezoelectric cantilever: investigations of local optical and electrical properties Applied Surface Science 188(3-4),pp.425-429 （共著） 2002/03/28
59.	論文	Impurity reduction and crystalline quality improvement due to isovalent doping (In) in GaAs epilayers on Si substrate by chemical beam epitaxy J. Crys. Growth 209(4),pp.621-624 （共著） 2000/02/02
60.	論文	Stress reduction and structural quality improvement due to In doping in GaAs/Si Materials Science and Engineering: B 68(3),pp.166-170 （共著） 2000/01/03
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■ 研究題目

1.	2020/06～2021/03	太陽光発電システムのみで情報通信管理を可能にするための実証研究競争的資金等の外部資金による研究
2.	2016/04～2017/03	電池用－高分解能電流経路映像化システムの開発競争的資金等の外部資金による研究
3.	2015/04～2016/03	電池用－高分解能電流経路映像化システムの開発競争的資金等の外部資金による研究
4.	2014/04～2017/03	ワイドバンドギャップ・パワー半導体を用いた高速スイッチング電源の開発基盤研究(C)
5.	2014/04～2015/03	電池用－高分解能電流経路映像化システムの開発競争的資金等の外部資金による研究
6.	2013/10～2015/03	電池用－高分解能電流経路映像化システムの開発競争的資金等の外部資金による研究
7.	2013/06～2018/03	マイクロ領域／マクロ領域における複合的プローブ技術の開発に関する研究競争的資金等の外部資金による研究
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■ ホームページ

佐藤研究室

■ 委員会・協会等

1.	2019/04～	電気学会産業応用部門和文論文誌論文委員会編修長補佐
2.	2018/04～2019/03	電気学会編修委員会委員
3.	2018/04～2019/03	電気学会編集専門第１部会主査
4.	2016/04～2018/03	電気学会編修専門第1部会副主査
5.	2015/07～	電気学会産業応用部門国際委員会委員
6.	2015/05～2017/03	NEDO パワーエレクトロニクス人材育成事業検討委員会技術委員
7.	2013/04～2016/03	電気学会編修専門第1部会委員
8.	2012/06～2015/06	電気学会産業応用部門国際委員会幹事
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