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シモダ アツシ
ATSUSHI SHIMODA
下田 篤 所属 千葉工業大学 未来変革科学部 デジタル変革科学科 千葉工業大学 社会システム科学研究科 マネジメント工学専攻 職種 教授 |
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| 言語種別 | 英語 |
| 発行・発表の年月 | 1998/11 |
| 形態種別 | 国際会議プロシーディングス |
| 査読 | 査読あり |
| 標題 | Thin Film Magnetic Head Wafer Inspection Technique using Geometrical Feature-Based Image Comparison |
| 執筆形態 | 共著 |
| 掲載誌名 | Proceedings of IAPR Workshop on Machine Vision Applications (MVA'98) |
| 掲載区分 | 国外 |
| 巻・号・頁 | pp.531-534 |
| 著者・共著者 | Atsushi Shimoda, Hisafumi Iwata, Yukihiro Shibata, Hidehiro Ikeda |