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サトウ ノブオ
Satoh Nobuo
佐藤 宣夫 所属 千葉工業大学 工学部 機械電子創成工学科 千葉工業大学 工学研究科 工学専攻 千葉工業大学 工学研究科 機械電子創成工学専攻 職種 教授 |
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| 言語種別 | 英語 |
| 発行・発表の年月 | 2019/11/14 |
| 形態種別 | 学術雑誌 |
| 査読 | 査読あり |
| 標題 | Development of atomic force microscopy combined with scanning electron microscopy for investigating electronic devices |
| 執筆形態 | 共著 |
| 掲載誌名 | AIP Advances |
| 掲載区分 | 国外 |
| 巻・号・頁 | 9 |
| 著者・共著者 | Takeshi Uruma, Chiaki Tsunemitsu, Katsuki Terao, Kenta Nakazawa, Nobuo Satoh, Hidekazu Yamamoto, and Futoshi Iwata |