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サトウ ノブオ
Satoh Nobuo
佐藤 宣夫 所属 千葉工業大学 工学部 宇宙・半導体工学科 千葉工業大学 工学研究科 工学専攻 千葉工業大学 工学研究科 機械電子創成工学専攻 職種 教授 |
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| 言語種別 | 日本語 |
| 発行・発表の年月 | 2021/10/01 |
| 形態種別 | 学術雑誌 |
| 査読 | 査読あり |
| 標題 | 走査型プローブ顕微鏡を用いた電圧印加中のSiCプレーナ型パワーMOSFETの観測 |
| 執筆形態 | 共著 |
| 掲載誌名 | 電気学会論文誌E(センサ・マイクロマシン部門誌) |
| 掲載区分 | 国内 |
| 出版社・発行元 | 電気学会 |
| 巻・号・頁 | 141(10),349-355頁 |
| 総ページ数 | 7 |
| 担当区分 | 責任著者 |
| 著者・共著者 | 土井 敦史, 佐藤 宣夫, 山本 秀和 |
| DOI | https://doi.org/10.1541/ieejsmas.141.349 |
| ISSN | 1341-8939 |
| NAID | 130008095572 |