ハヤシ シンイチロウ
Shin-Ichiro HAYASHI
林 真一郎 所属 千葉工業大学 工学部 電気電子工学科 職種 准教授 |
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言語種別 | 英語 |
発行・発表の年月 | 2022/01/01 |
形態種別 | 学術雑誌 |
査読 | 査読あり |
標題 | Design a Continuous Switching Test Circuit for Power Devices to Evaluate Reliability |
執筆形態 | 共著 |
掲載誌名 | IEEJ Journal of Industry Applications |
掲載区分 | 国内 |
出版社・発行元 | 電気学会 |
巻・号・頁 | 11(1),pp.108-116 |
総ページ数 | 9 |
担当区分 | 筆頭著者 |
著者・共著者 | S.-I. Hayashi, K. Wada |
researchmap用URL | https://doi.org/10.1541/ieejjia.21004267 |